冬天即將來臨，寒風即將來臨，科學指南針連續四個月為兩項熱門測試準備了兩項特別優惠！
活動時間：11月23日-12月7日。
[形態分析透射電鏡（含雲站點）]。
儀器介紹。 形貌透射電鏡測試的預設加速電壓為200kV，最小5nm刻度**可用，TIF格式的資料檔案僅可用於形貌和衍射分析。
裝置型號：JEM-2100PLUS
燈絲型別：Lab6，加速電壓：80 - 200 kV
典型放大倍率：2000 - 1000000x
相機：Tolara底部安裝CCD相機。
* 解像度：2752*2192，點解像度：0194nm
裝置特點：裝置採用多級聚光鏡設計，配備超高解像度UHR材料極靴，束斑可提供不同尺寸的高能電子束，解像度高，顯微分析能力好。
應用場景：廣泛應用於金屬材料、半導體材料、複合材料的形貌攝影和結構表徵。
樣品要求。 非磁性或弱磁性、結晶度好、耐電子輻照的粉末和液體樣品、固體樣品不參加樣品測試活動，具體詳情請與專案經理聯絡。
此外，需要DM3格式資料的教師，或需要STEM和能譜的教師，可以預約F200等其他型號的裝置（F200不參加此活動）。
[台式XAFS吸收光譜]。
儀器介紹。 2024年，第一台用於實驗室的台式XAFS光譜儀誕生於美國華盛頓大學物理系的Gerald T.2024年，Seidler教授的研究小組成立了EasyXAFS Inc.，致力於實驗室用台式XAFS光譜儀的推廣和應用。
操作更簡單：可同時測試多個樣品，無需使用同步輻射光源，可在常規實驗環境下進行X射線吸收精細結構測量和分析。
良好的測試結果：對於常規元素含量高的樣品，測得的光譜可以與同步輻射相媲美。
國際認可：已成功出版頂級期刊，如Advanced Functional Materials、JACS、ACS Applied Materials & Interfaces
*更合適：台式**比同步輻射裝置測試便宜。
測試速度更快：同步輻射XAFS裝置測試資源稀缺，時間固定，需要提前預約，至少需要得到05.1個月，目前科學羅盤台式XAFS測試，收到樣品後3天內即可獲得實驗結果。
樣品要求。 對於粉末樣品，所需的樣品量與樣品中待測元素的含量有關，詳情請諮詢工作人員。
塊膜：長寬約10-13mm，表面無裂紋，無孔洞。
被測元素含量要求：3%質量分數。
可測能量範圍：5keV 18keV，測試模式為傳輸模式。
目前有6種金屬標準，分別是Fe、Co、Ni、Cu、Zn和Mn。
此次促銷活動不僅是對形貌TEM台式XAFS測試訂單的折扣，也是對其測試結果的真實反饋，Scientific Compass將根據客戶的反饋和評價，進一步提高其服務的質量和準確性。