近日，基於達普斯特新一代自主研發的PCIe 50 主控晶元 DP800 Roealsen R6 系列 NVME U2 SSD參加了PCI-SIG（Peripheral Component Interconnect Special Interest Group）協會在美國加州舉辦的第127研討會，並順利通過PCI-SIG Gen5 32Gbps相容性認證測試。
在 PCI-SIG 的 PCI Express 認證產品列表中，Dapustor 的 Roealsen R6 系列被列為包括在內。
在PCIe領域，PCI-SIG擁有絕對的權威，不僅制定標準，還為PCIe成員公司提供PCIe認證測試，通過測試的產品資訊將被彙編到整合商名單中。 PCI-SIG的認證全面而嚴謹，世界各地的公司在購買PCIe裝置時經常參考這份認證清單。
PCI-SIG認證測試對被測產品的PCIe鏈路進行全面的一致性測試，完成電訊號測試、配置測試、協議測試和互操作性測試，以確保通過認證測試的產品完全符合PCIe協議標準，能夠在同樣符合標準的應用環境中穩定工作。
PCIe Gen5一致性認證測試專案中的電氣測試專案主要包括以下專案：
1.Roealsen R6 系列 TX Si（Eye） 測試：用於測量 PCIe Gen5 傳輸線的訊號完整性，以確保訊號符合規範並允許雙端裝置的協商和資料傳輸。 該測試的工作原理是以給定的取樣率檢視傳輸線上的眼圖，以確定訊號質量是否符合規格。
2.Roealsen R6 系列 TX 預設測試：通過調整適當的預設引數，可以減少訊號失真和干擾，確保裝置在各種鏈路條件下都能保持穩定的效能。 TX預置測試可以檢查每個配置下的傳送方引數是否滿足關聯定義的要求，以確保接收方獲得完整的模型，避免資料錯誤。
3.Roealsen R6 系列 TX LinkeQ 測試：該測試測量被測裝置 TX 側從一種預設狀態到另一種預設狀態的穩定性，以確保產品在 PCIe 協商過程中每次都能正確協商合理的引數。
4.Roealsen R6 系列 TX PLL 頻寬測試：測量被測裝置的頻寬和增益，以確保其符合 PCIe Gen5 協議的要求。 該測試涉及鎖相環，用於控制相位和頻率，廣泛應用於通訊、雷達、電子測量等領域。
5.Roealsen R6 系列 RX 一致性測試：驗證被測裝置的接收器 （RX） 是否能夠正確接收和解碼測試裝置的發射器 （TX） 在關聯要求的衰減鏈路下傳送的資料訊號，並確保其效能符合 PCIe 規範的要求。 其中一種測試是誤位元速率測試，其中測試裝置將干擾注入發射訊號，然後觀察接收器是否能夠正確解碼資料並計算誤位元速率。
這些測試專案旨在確保 PCIe Gen5 介面的電氣效能符合規範，從而保證資料的正確傳輸和系統的正常執行，使不同廠商的 PCIe Gen5 介面裝置的組合能夠協商並正常工作。
DAPUSTOR Roealsen R6 系列成功通過 PCI-SIG Gen5 測試，為公司與需要下一代 SSD 產品的公司之間的合作和信任奠定了基礎。 作為PCI-SIG的一員，大普微非常幸運能夠參與到PCIe技術生態中來。 從Gen3到Gen5，大普微在不同世代的PCIe技術上穩步前進，不斷進化和創新，憑藉其在自研SSD產品方面的豐富成功經驗，大普微成為值得信賴的合作夥伴，為使用者提供高效能、高可靠性的儲存解決方案。