光纖光柵（FBG）作為一種新型無源器件，成功地為光通訊和光感測開闢了一條新路徑，自光纖光柵技術應用以來，該技術在光纖感測技術和高速光纖通訊領域得到了迅速發展。 但在光感測領域，偏振效應具有響應速度快、效率高等優點，利用光纖的偏振靈敏特性進行感測，器件的超快偏振響應特性可用於全光訊號處理，這使得偏振相關特性的研究非常有意義。
當FBG加壓時測量偏振相關的損耗
試驗載入裝置示意圖如圖1所示，採用光學向量分析儀（OCI-V）進行測試，測量方式為反射測量，一次掃瞄即可獲得光纖光柵反射的偏振相關損耗（PDL），被測光纖光柵的中心波長為15480-1548.在3nm處，壓力載入裝置是將光纖光柵平放在兩塊鋼板之間，在光纖光柵的平行位置放置一根相同直徑的光纖，以保證光纖光柵在壓力下平衡，並在上部鋼板上放置不同重量的砝碼進行載入，分別為1kg， 分別為2kg、4kg、6kg和10kg。
圖1試驗載入裝置示意圖。
圖2A-0KN、B-10KN、C-20KN、D-40KN、E-60KN 和 F-100KN 的 PDL 測試圖。
圖2是不同壓力下的測試圖，從中可以看出，當沒有壓力時，中心波長附近的光帶PDL趨於零，施加壓力後，中心波長附近的兩端出現兩個峰值（圖中圓的位置）， 隨著氣壓逐漸增浪的峰值越來越大，當壓力達到60kN時出現波浪的峰值，隨著壓力的增加，兩個峰值逐漸接近，中間PDL趨於零的平坦區域逐漸縮小。當壓力達到100 kN時，波峰變形，波峰高度減小，中間PDL平坦區域消失。
綜上所述，發現壓力會對FBG中心波長附近的PDL產生較大影響，並且隨著壓力的增加，中心波長兩端PDL的峰值逐漸增大，PDL的較小面積逐漸減小直至消失，當壓力過大時，中心波長附近波段的PDL會畸變。 通過OCI-V可以快速測量光纖光柵的偏振相關損耗，通過其偏振相關特性來判斷光纖光柵的效能，為能否準確進行通訊傳輸和光感知提供了判斷標準。
光學向量分析系統 OCI-V
OCI-V 是一種光學向量分析系統，可快速檢測光損耗、色散和偏振等相關引數。