LED雙溫壽命試驗箱 LED雙溫老化試驗箱

本裝置按照經批准的 LED 光源流明維持測量方法第 4 節使用0 要求專門使用環境條件，為LED測試提供雙溫測試環境; 裝置由試驗箱和位於門上的安裝板分別提供試驗環境溫度和本體溫度，試驗箱前後各安裝4個門，每扇門上裝有溫控板，溫控板有安裝試樣的螺紋孔和試驗溫度的熱電偶孔; 測試機架上放置了多個測試室，並通過通訊電纜與位於室外控制台上的計算機通訊，形成測試系統。

功能引數

1.工位數：4個，前後共4個門，每門上乙個測試工位。

2.每個工位有三組測試樣品，每組測試樣品與10個樣品串聯。

3.溫控方式：半導體加熱冷卻（普通型）、電加熱元件加熱、環境散熱冷卻（高溫型）。

4.溫控板與試驗室內溫度分開控制，試驗時溫控板溫度比試驗室內環境溫度高2-3倍。

5.溫控板技術引數：

溫度範圍：-2-90（普通型），50-150（高溫型）。

傳熱方式：銅板導熱。

溫度精度：1。

溫度波動：1。

指示精度：01℃。

溫控板尺寸：L250mmxW200mm。

溫控板材質：黃銅或不鏽鋼。

門結構：內溫控制板、中溫控制元件、外隔風、風扇散熱。

6.櫃體技術引數：

溫度範圍：-5-90（普通型），50-150（高溫型）。

在試驗過程中，溫控板的溫度比試驗箱內的環境溫度高2-3倍。

傳熱方式：空氣迴圈傳熱。

溫度精度：2。

溫度波動：2。

指示精度：01℃。

試驗箱為空：L600mmxd200mmxh250mm。

結構：風扇安裝在試驗箱頂部，從試驗箱吸入空氣，兩側回風。