使用RS FSW和SMW200A進行衛星雜散測量

在設計、驗證和製造射頻和微波器件時，有必要使用頻譜分析儀來搜尋雜散。

衛星應用中的發射機和接收機裝置必須滿足極其嚴格的雜散限制。 這意味著在很寬的頻率範圍內檢測非常低的雜散水平。 通常，高靈敏度測量需要窄解像度頻寬 （RBW），但這會導致更長的測量時間。 即使使用配備FFT濾波器的快速頻譜分析儀，雜散檢測也可能需要數小時甚至數天。

新的雜散檢測演算法可自動進行雜散測量並提高測量速度。

R&S FSW-K50 雜散測量應用採用三步法檢測和確定雜散。 最佳RBW首先通過快速掃瞄確定。 然後執行第二次掃瞄以檢測可能的雜散。 對每個已知雜散頻率的最終高速搜尋決定了該峰值是實際雜散、雜訊偽影還是分析儀的內部雜散。 在最後一步中，進一步降低RBW，以滿足訊雜比要求。

R&S FSW-K50 雜散測量應用的測量流程

1.頻譜檢視和本底雜訊估計

估計測量時間。

使用最佳 RBW** 進行分割。

2.雜散檢測

通過的雜散檢測限失敗。

初步雜散**。

3.雜散點搜尋

失敗。

最終雜散**。

優化的 RBW（如果需要）。

用於大範圍雜散搜尋的測量設定。 每個頻段的可配置引數。

與傳統的雜散測量應用相比，R&S FSW-K50 具有以下幾個優勢：

雜散檢測速度比現有頻譜分析儀快 30 倍，尤其是在低 RBW 下。

RBW是根據最大允許雜散電平和所需的訊雜比自動計算的

有兩種不同的測量模式：針對未知雜散場景的寬範圍檢測和針對特定頻率的定向檢測。

“雜散測量應用結果”螢幕。

縮放虛假點搜尋。 降低雜散RBW，以降低本底雜訊並滿足使用者設定的訊雜比要求，同時確定峰值是否為真雜散。