日本東京精密DM45502應用場景描述

東京精密DM45502測針是一種用於表面粗糙度和輪廓測量的測針，它具有以下特點：

它的質量僅為4克，適用於小半徑曲面的高速掃瞄和測量。 具有高精度和高穩定性，能夠測量各種材料和形狀的表面。

相容ContouRecord、SURFCOM、NEX等多種TOKYO Seimitsu測量儀器。

Tokyo Seimitsu DM45502 手寫筆可用於廣泛的應用，例如：

在汽車、航空、機械等行業，可用於測量零件的表面粗糙度和輪廓，如曲軸、凸輪、齒輪、軸承、活塞環等。

在電子、半導體、光學等行業，可用於測量微小精密表面的表面形貌，如晶元、電路板、光纖、透鏡等。 在半導體和光學工業中，表面形貌的測量和控制對產品的質量和效能至關重要。 例如，在半導體製造中，表面的微小不平整會導致電路效能的差異，因此需要精確測量和控制表面形貌。

在傳統的表面形貌測量方法中，如干涉測量、光學輪廓儀等，往往需要複雜的實驗環境和精細的樣品處理，測量速度較慢。 然而，基於原子力顯微鏡（AFM）的表面形貌測量方法因其高精度、高速和高靈敏度而廣泛應用於這些行業。

東京精密DM45502測針是一種高效能的測量工具，可以滿足不同行業和領域的表面粗糙度和輪廓測量需求，為提高產品質量和效能提供可靠的資料支援。