Agilent 4155C 4156C 半導體引數分析儀。
Agilent 4155B半導體測試儀 安捷倫數字掃瞄引數分析儀，可靠的測試儀，強大的故障分析工具，自動檢測裝置;在合成到同一引數儀器中倖存下來。
新產品的設計目標明確旨在為亞微公尺幾何尺寸裝置的評估提供前所未有的精度。
它是一種靈活的儀器，可用於從材料評估到裝置表徵再到後包裝的所有工作。
各個階段的區域性檢查和現場失效分析可以提供許多應用，以提高半導體器件的質量。
選擇正確的解決方案。
Agilent 4155B 具有 4 個內建源監控單元 （SMU） 和 2 個電壓單元 （VSU）。
4155B 具有兩個電壓監控單元 （VMU），是採用非開爾文連線的基本半導體連線的絕佳選擇，解像度為 10FA，1 V 測量範圍為 100mA 至 100V。
41501B SMU 和脈衝發生器擴充套件器可以隨時新增。 它由 0v 1 組成6A 接地單元饋電。
可擴充套件以接收兩個 100mA 100V SMU 或乙個 1A 200V SMU 和兩個同步 40V 1 S 脈衝發生器。
設定和測量。
Agilent 4155B 可與包括 Agilent 41501B 在內的多種測量單元配合使用，用於步進、脈衝掃瞄和取樣（時域）測量，無需可變連線。 此外，應力迴圈測量（如熱載流子的注入）和快速EEPROM評估可用於可靠性評估。
這可以通過前面板鍵、鍵盤或 gpib（scpi 命令）通過設定頁面和新增空格來完成。
設定和測量，以及通過按鈕掃瞄功能進行的簡短測量和查詢設定 - 類似於曲線繪圖儀。
在彩色 LCD 上顯示和分析測量和分析結果，可由 4 個圖形儲存器儲存以供分析。 比較。 強大的分析方法使提取多個引數變得容易，如HFE、VTH等。
一旦找到引數提取條件，就可以使用-auto分析功能自動獲取它們。 輸出和儲存。
設定、測量、分析資料可通過GPIB、Yanxing或網路介面10Base-T LAN輸出到彩色繪圖儀和印表機，也可通過網路或35 英吋磁碟以 MS-DOS 或 LIF 格式儲存（Agilent-GL、PCL 功能 TIF）。
輸出檔案還允許將圖形轉換為桌面出版軟體。 重複和自動化測試。