頂部散熱還是底部散熱,大功率降壓轉換哪種方式更合適?

Mondo 數碼 更新 2024-02-22

圖24和圖25顯示了MOSFET在沒有頂部散熱器的情況下和頂部散熱器時的溫度變化。 在更高的電流下,沒有散熱器的低側MOSFET比帶有頂部散熱器的MOSFET更熱。 低側MOSFET為20在 0A 下使用 60mm 散熱器比不使用散熱器時低約 30°C。 同樣,與沒有散熱器的MOSFET相比,帶有25mm散熱片的MOSFET的溫度要低22°C。

圖24帶和不帶頂部散熱器的低側MOSFET溫度變化。

高側MOSFET為20在 0A 下使用 60mm 散熱器比不使用散熱器時低約 33°C。 同樣,與不帶散熱器的MOSFET相比,使用25mm散熱器時,MOSFET的溫度要低26°C。

圖25帶和不帶頂部散熱器的高階MOSFET溫度變化。

圖 26 和 27 顯示了 MOSFET 在沒有和有背面散熱器的情況下的溫度變化。 在較高電流下,不帶散熱器的低側MOSFET比帶背面散熱器的MOSFET更熱。 低側MOSFET為20在 0A 下使用 60mm 散熱器比不使用散熱器時低約 29°C。 同樣,與沒有散熱器的MOSFET相比,帶有25mm散熱器的MOSFET的溫度降低了23°C。

圖26低側MOSFET溫度變化,帶或不帶底側散熱器。

高側MOSFET為20在 0A 下使用 60mm 散熱器比不使用散熱器低約 31°C。 同樣,帶有 25mm 散熱器的 MOSFET 比沒有散熱器的溫度低 25°C。

圖27帶和不帶底部散熱器的高階MOSFET溫度變化。

對於 60 公釐散熱器,以下測量值為 20使用 3W (m·k) 和 6W (m·k) 間隙焊盤在 0A 負載電流下記錄,以了解間隙焊盤厚度對熱效能的影響。 兩種不同的間隙墊是 KeraFlol 86 300 Softtherm 和 86 600 SoftTherm,如本 *** 開頭的表 2 所示。

當頂部散熱器將間隙焊盤從3W(m·k)更改為6W(m·k)(熱阻約為原始的一半)時,觀察到低側MOSFET的溫度下降了1分鐘6%,高側MOSFET溫度降低35%(表15)。

表15帶頂部散熱器的間隙墊。

使用底部散熱器時,測得低側MOSFET的溫度會降低約76%,高側MOSFET溫度降低約66%(表16)。

表16帶底部散熱片的間隙墊。

如前所述,PCB針對良好的導熱性和散熱性進行了優化,並可作為MOSFET的非常有效的散熱器。 在存在多個熱源且 PCB 的散熱能力有限的實際應用中,這種方法通常是不可取的。 首選的散熱方法是通過與PCB熱連線的ECU外殼。 採用“頂部冷卻”封裝的MOSFET在熱源(MOSFET)和散熱器(外殼)之間實現了最低的熱阻,允許在頂部MOSFET的裸露焊盤和散熱器之間實現直接熱連線,同時最大限度地減少熱量流入PCB。

具有相同晶元但採用不同封裝的MOSFET需要直接比較其熱效能。 之前的所有測量都使用了NVMFS5C460NL,但該MOSFET在“頂部冷卻”封裝變體中不可用。 因此,選擇NVMFS5C450N(SO-8FL裸露焊盤)和NVMJST3D3N04C(頂部散熱封裝,頂部裸露焊盤)進行以下測量。

NVMJST3D3N04C僅作為標準級器件提供,而NVMFS5C460NL是邏輯級器件。 在此應用中,標準級器件的效率預計略低於邏輯級器件。 儘管如此,由於損失並不大,因此只能比較熱效能、NVMFS5C450N和NVMJST3D3N04C的差異。

表17包概述。

SO-8FL中NVMFS5C450N頂面的塑料表面積為317mm2,用塑料表面的底面NVMJS3D3N04C LFPAK10 TC(270mm2)。 兩款器件的裸露焊盤尺寸大致相同。

高度為 25mm 的散熱器用於以下測量,以避免散熱器的任何限制,並最大限度地提高熱效能以優化加熱時的任何差異。

nvmfs5c450n)

表 18 和 19 顯示了帶和不帶散熱器的高壓側和低壓側 MOSFET (NVMFS5C450N) 的溫度。 散熱器安裝在MOSFET(塑料外殼)的頂面上。

表18NVMFS5C450N - 無散熱器。

表19NVMFS5C450N - 頂部 25 公釐散熱片。

圖28NVMFS5C450N - 帶和不帶散熱器的低側MOSFET溫度。

圖29NVMFS5C450N - 帶和不帶散熱器的高階MOSFET溫度。

圖 28 和圖 29 顯示了使用安裝在 MOSFET 塑料頂面上的散熱器來改善低側和高側 MOSFET 的散熱。

在 5在0A負載電流下,低側MOSFET的溫度比沒有散熱器的溫度低約6°C,而高側MOSFET的溫度則低約8°C。 而在 20 年在0A負載電流下,低側MOSFET的溫度比沒有散熱器的溫度低約40°C,而高側MOSFET的溫度低約37°C。

兩種測量的熱效能都在預期範圍內,散熱器可以顯著降低MOSFET溫度。 通常,由於柵極電荷較高,NVMFS5C450N開關速度較慢,因此溫度高於之前使用NVMFS5C460NL測量的溫度。 甚至導通電阻也略低。

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表 20 和表 21 顯示了帶和不帶散熱器的高壓側和低壓側 MOSFET (NVMJS3D3N04C) 的溫度。 散熱器安裝在MOSFET(裸露焊盤)的頂面上。

表20NVMJST3D3N04C - 沒有散熱器。

表21NVMJST3D3N04C - 頂部表面有 25 公釐散熱器。

圖30NVMJS3D3N04C - 帶和不帶散熱器的低側MOSFET溫度。

圖31NVMJS3D3N04C - 帶和不帶散熱器的高階MOSFET溫度。

圖30和圖31顯示了使用安裝在MOSFET頂部裸露焊盤上的散熱器來改善低側和高側MOSFET的散熱。

在 5在0A負載電流下,低側MOSFET的溫度比沒有散熱器的溫度低約8°C,而高側MOSFET的溫度低約10°C。 而在 20 年在0A負載電流下,低側MOSFET的溫度比沒有散熱器的溫度低約40°C,而高側MOSFET的溫度低約37°C。

此外,在此測量中,熱效能符合預期。 由於NVMJS3D3N04C和NVMFS5C450N使用相同的晶元,因此損耗和發熱高於以前用NVMFS5C460NL測量的損耗,這是由於較高的柵極充電器導致的開關損耗更高。

圖32比較了底部(NVMFS5C450N)和頂部(NVMJS3D3N04C)裸露焊盤與頂部散熱器的低側MOSFET溫度。

圖32NVMFS5C450N和NVMJS3D3N04C - 帶散熱器的低側MOSFET溫度

圖33比較了底部(NVMFS5C450N)和頂部(NVMJS3D3N04C)裸露焊盤與頂部散熱器的高階MOSFET溫度。

圖33NVMFS5C450N 和 NVMJST3D3N04C

高階MOSFET溫度(帶散熱器)。

一般來說,無論使用底部還是頂部帶有裸露焊盤的MOSFET,以及MOSFET封裝頂部的散熱器,這種特定PCB和設定的熱效能都非常相似。 對於低側MOSFET,底部裸露焊盤封裝的效能略好於頂部裸露焊盤,反之亦然。

對於背面有裸露焊盤的MOSFET,大量的熱量流入PCB,經過優化後成為有效的散熱器。 MOSFET頂部塑料表面的散熱器也有助於降低MOSFET溫度。

頂部帶有裸露焊盤的MOSFET在PCB和底面的塑料表面之間的熱耦合相對較差。 然而,焊接到 PCB 上的引線也會讓熱量流入 PCB。 MOSFET頂部的裸露焊盤連線到散熱器,可有效散熱。

兩種配置均通過MOSFET封裝的底部和頂部進行熱耗散。 對於裸底封裝,MOSFET和PCB之間的熱阻低於MOSFET和散熱器之間的熱阻。 對於頂部裸封裝,反之亦然; MOSFET和散熱器之間的熱阻很低。 這導致在完全不同的配置下實現相似的熱效能,並且可以對兩種型別的封裝實現有效的散熱。

不同的測量和比較顯示了連線到電源的散熱器對MOSFET溫度的影響。 根據結果,可以得出以下結論,這些結論對給定環境有效:

如果使用帶有裸露底面焊盤的MOSFET,並使用熱優化的PCB進行導熱和散熱,則無論是安裝PCB的底面還是MOSFET的頂面,散熱片的MOSFET溫度相差都小於3°C。

MOSFET溫度取決於散熱器尺寸。

在20在 0A 負載電流下,使用 60mm 散熱器的 MOSFET 溫度比不帶散熱器的設定低約 30°C。

與沒有任何散熱器的設定相比,當使用25mm散熱器時,MOSFET的溫度降低了約15至20°C。

使用10mm散熱器時,MOSFET比沒有任何散熱器的設定低10°C。

這種溫度變化與三個散熱器的熱阻成正比。 它還表明,如果使用熱優化的PCB布局,散熱器需要一定的質量和導熱性才能顯著降低溫度。

25mm 和 60mm 散熱片 at 20在0A負載電流下,MOSFET的溫差為6°C,低於最初預期。

不超過 15在0A負載電流下,25mm和60mm散熱片之間的MOSFET溫差相對較低,只有2°C左右。 負載電流高於15在0A時,溫差最多增加約6°C。

這表明需要基於優點的散熱器選擇,以更好地平衡成本和熱效能改進。

具有裸露頂部焊盤和散熱器的MOSFET可實現與具有裸露底部焊盤的MOSFET相似的熱效能,該MOSFET安裝在熱優化PCB上,散熱器位於封裝頂部。 如果要最大限度地減少流入 PCB 的熱量,則頂部帶有裸露焊盤的 MOSFET 是正確的選擇,因為它們對安裝在封裝頂部的散熱器的熱阻最小。

所有測量都是一致的、可重複的,並且符合一般的理論預期。 這證明電氣和機械設定都正常可靠地執行。

當然,測試設定與實際應用相去甚遠,例如在帶有散熱器的定製鋁製外殼內,其中電源是複雜ECU的一部分。 但是,它解釋了不同引數的影響,例如散熱器的熱阻或間隙焊盤厚度對MOSFET溫度的影響。 它還清楚地表明,通過將散熱器安裝在熱源的頂部(在本例中為 MOSFET)或 PCB 的另一側(假設 PCB 布局經過熱優化,所有層上都有散熱孔和更大的銅面積以允許散熱流過 PCB),可以實現類似的效能。

如果要最大程度地減少流入 PCB 的熱量,則應使用連線到散熱器的 MOSFET,並帶有裸露的頂部焊盤。

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