JKZC DN系列增強型探針臺

產品概述。

JKZC-DN系列探針臺是我公司一款增強型晶圓測試探針臺，可完成最大12英吋晶圓的電氣測試。 該系列探針臺採用高剛性顯微鏡龍門結構，可在x-y-z方向上精確調節顯微鏡。 卡盤具有上下調節功能，可快速將探針與樣品分離，提高測試效率，已廣泛應用於科研單位和半導體工廠。 這些探針臺可用於測試超過 1 m 的焊盤電極。

技術特點： 顯微鏡採用高剛性龍門支架，並配備氣動公升降，確保高質量的光學成像

卡盤具有快速和精細的調整功能，可快速分離樣品和探針，也可以裝載探針卡

可公升級，卡盤可公升級360度快速移動，光電流掃瞄成像或拉曼瞬態螢光壽命成像系統可公升級。

詳細引數。