scd-1500半導體C-V特性分析儀
關鍵詞：半導體，C-V特性，積體電路
scd-1500半導體C-V特性分析儀創新採用雙CPU架構，Linux底層系統，101寸電容式觸控螢幕、中英文操作介面、內建說明和幫助等新一代技術，適用於生產線快速分揀、自動整合測試、滿足實驗室研發分析等需求。 半導體C-V特性分析儀的測試頻率為10kHz-2MHz，VGS電壓可達40V，足以滿足二極體、電晶體、MOS電晶體和IGBT的CV特性測試分析。
一、主要應用範圍：
半導體 功率元件。
二極體、電晶體、MOSFET、IGBT、閘流體、積體電路、光電晶元等的寄生電容測試和C-V特性分析。
半導體材料。
晶圓和 C-V 表徵分析。
液晶材料。 彈性常數分析。
二、效能特點：
通道數：2 個（可擴充套件至 6 個）。
高偏置：VGS：0 - 40V，VDS：0 200V、1500V、3000V
雙CPU架構，最短積分時間為056 毫秒（1800 秒）。
10.1寸電容式觸控螢幕，解像度1280*800，Linux系統。
有三種測試方法：點測量、列表掃瞄和圖形掃瞄（可選）。
四個寄生引數（CESS、COSS、CRSS、RG）顯示在同一螢幕上。
快速上試續
一體化設計：LCR+高壓電源+繼電器矩陣。
快速充電縮短了電容器充電時間，便於進行快速測試。
自動延遲設定。
10級排序。
3.功能特點
a.單點測試，101寸大屏，同屏顯示四個寄生引數，細節一目了然
10.1寸觸控螢幕，1280*800解像度，Linux系統，中英文操作介面，支援鍵盤、滑鼠、區域網介面，帶來無與倫比的操作便利。
MOSFET最重要的四個寄生引數：CESS、COSS、CRSS、RG直接在同一介面上顯示測量結果，同時顯示四個引數的等效電路圖，一目了然。
最多可快速呼叫6個通道的測量引數，分選結果可直接顯示在同一介面上。
b.列表測試，靈活組合
scd-1500半導體C-V特性分析儀最多支援6個通道和4個測量引數的測試分析，列表掃瞄模式支援不同通道、不同引數、不同測量條件的任意組合，可設定極限範圍，顯示測量結果。
c.曲線掃瞄功能（可選）。
scd-1500半導體C-V特性分析儀支援C-V特徵曲線分析，可實現對數和線性方式的曲線掃瞄，可同時顯示多條曲線：同一引數、不同VG的多條曲線; 具有相同VG和不同引數的多條曲線。
c.曲線掃瞄功能（可選）。
scd-1500半導體C-V特性分析儀支援C-V特徵曲線分析，可實現對數和線性方式的曲線掃瞄，可同時顯示多條曲線：同一引數、不同VG的多條曲線; 具有相同VG和不同引數的多條曲線。
d.快速簡便的設定
e.10齒輪分揀和可程式設計分選機介面
該儀器提供10級分揀，提供了對客戶產品質量進行分級的可能性，分揀結果直接輸出到分選機介面。
在與自動化裝置連線時，如何配置分流器介面輸出一直是自動化客戶的難題，TH510系列將分流器介面引腳、輸入輸出模式、對應訊號、響應模式完全視覺化，讓自動化連線更加輕鬆。
f.支援定製，智慧型韌體公升級模式
scd-1500半導體C-V特性分析儀它對客戶開放，儀器的所有介面和指令集都是開放式設計，客戶可以自行程式設計整合或定製功能，如果定製功能沒有硬體變化，可以直接通過韌體公升級進行更新。
儀器本身可以通過公升級韌體進行更新，而無需返回工廠。
韌體公升級非常智慧型，可以通過系統設定介面或檔案管理介面進行，智慧型搜尋儀器記憶體、外接U盤甚至區域網內公升級包，並自動公升級。
g.半導體元件寄生電容知識
在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態特性，因此在設計半導體元件時需要考慮以下因素。 MOS管的寄生電容會影響管的執行時間、驅動能力和開關損耗。 寄生電容器的電壓依賴性在電路設計中也至關重要，以MOSFET為例。
技術引數
1.通道：2通道（可擴充套件6通道）。
2.顯示：LCD顯示，觸控螢幕。
3、測量引數：C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、RP、Z|、|y|
4、測試頻率：10kHz-2MHz
5.精度：001%
6.解像度：10MHz 100000khz-9.99999khz
7、電壓範圍：5mvrms-2vrms
8.精度：（10%設定值+2mv）。
9. VGS電壓40V，精度：1%設定電壓+8mV，解像度; 1mv(0v-±10v)
10. VDS電壓：0-200V
11.精度：1%設定電壓+100mV
12. 1% 設定電壓 +100mV
13、輸出阻抗：100,2%@1khz
14.軟體：C-V特徵曲線分析，對數和線性兩種方式實現曲線掃瞄。