Physik Instrumente （PI） 在 SPIE Photonics West PiLightning 上引入了一種新的光子晶元對準演算法。 該公司表示，Pilightning是完全自主的，不需要繁瑣的搜尋或人工干預，大大降低了工業光子對準應用的測試和組裝成本。 該產品為光子學實現大規模製造開闢了新的可能性。
早在 2016 年，PI 就推出了快速多通道光子學對準 （FMPA）。 該技術減少了製造和測試光子器件的時間和成本，並提高了產量。 但在優化校準過程開始之前，必須檢測高於雜訊水平的光訊號，這一過程稱為初始光檢測。
在所有工業光子學對準應用中，包括晶圓探測和器件封裝，尋找第一束光一直是乙個昂貴且費力的過程。 對於具有輸入和輸出埠的裝置來說，這尤其耗時，因為必須將兩側對齊才能達到閾值耦合量。
為了解決這個問題，Pilightning基於一種新的搜尋方法，該方法整合了基於人工智慧的實時執行能力。 用高頻資料取樣代替細間距掃瞄可提高採集速度，並減少在單面和雙面耦合和環迴 （omega） 波導配置中採集第一束光所需的時間。 
據該公司稱，測試表明，Pilightning在單側對準應用中實現了乙個數量級的效能改進; 在雙面初始光檢測應用中，效能甚至更高，搜尋區域越大，對準越複雜，效能提公升越明顯。
Pillightning演算法現在可直接用於PI基於超潔淨空氣軸承的F-142和F-143多軸光電對準系統，以及基於ACS的奈米立方體和方向鏡控制器。 目前正在對現有的FMPA系統進行進一步的模組擴充套件和潛在的公升級。
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