金建力工氬離子拋光應用例項

Mondo 科技 更新 2024-01-31

金健提供頁岩樣品的氬離子拋光切割服務(離子拋光CP)+高解像度場發射掃瞄電子顯微鏡SEM觀察。 金劍實驗室的氬離子拋光(CP法拋光)可以獲得光滑的截面,而不會對樣品造成機械損傷。 下面是乙個案例研究。

平面蝕刻和拋光功能。

左圖顯示了機械研磨和拋光對樣品造成的應力損傷可以通過離子研磨去除,從右圖可以清楚地看到兩種不同銅的結構。

平面蝕刻和拋光功能。

通過控制平面研磨時間,可以獲得有關樣品的更詳細的資訊。

package fa

results of experiment

sem parameter:

accelerating voltage: 1kv magnification: 600x imaging mode: back-scattered electron

package:fa ,cooling stage

sem parameter:

accelerating voltage: 1kv magnification: 2,500x imaging mode: back-scattered electron

package:fa ,cooling stage

sem parameter:

accelerating voltage: 1kv magnification: 5,000x imaging mode: back-scattered electron

package:fa ,cooling stage

sem parameter:

accelerating voltage: 1kv magnification: 10,000x imaging mode: back-scattered electron

package:fa;cooling stage

pcb board:cooling stage

die package application

results

high mag

pcb with osp layer

low mag

pcb with osp layer

high mag

tsvcentral tsv

center tsv near middle of length

low k material

離散器件。 high mag

high mag

cu wire with pdcoating

2.5d interposer

gatanresults polished width at roi ~ 1000um

high mag

bse image “left via”

se image region 9 bse image region #

bse image region #

bse image “right via”

金屬鍍層。 鍍鋅鋼板。

鍍鋅鋼板 - 高磁

相關問題答案

    金建力工氬離子切割拋光服務應用

    氬離子切割是一種樣品表面製備技術,它使用寬離子束 mm 切割樣品以獲得寬而精確的電子顯微鏡分析區域。機械研磨和拋光與離子束拋光。有限的硬質和固體樣品適用於所有型別的樣品。o 金屬材料的硬度 o 軟硬金屬材料均可。o二氧化矽和玻璃 o同一樣品含有硬質和軟質的不同材料。o 半導體 鋁寬高介電 o 多孔材...

    金建立功聚焦離子束電子束雙束顯微術(FIB SEM)功能推薦

    金健實驗室的電子顯微鏡系統整合了超高解像度電子光學系統和高效能離子束系統,不僅可以進行低壓和超高解像度的電子顯微鏡觀察,還可以使用FIB對樣品進行切割 加工和沉積,完成樣品內部或橫截面觀察和特定形狀處理,特別適用於選定區域TEM樣品的製備。除了離子束處理外,該裝置還可以進行SEM EDS EBSD測...

    金建立功EBSD樣品製備技術

    EBSD樣品製備方法的比較。.機械拋光 振動拋光。優點 方便快捷。缺點 試樣表面有破損,有殘餘應力。.機械拋光 化學拋光。優點 簡單 方便 最常用,拋光工藝要求不高。缺點 不同的金屬使用不同的化學拋光漿。.機械拋光 電解拋光。優點 方便 快捷 可重複 最常用 無機械變形 自動化。缺點 拋光工藝 拋光...

    龔金建立 FIB SEM雙光束系統在材料研究中的應用

    雙光束聚焦離子束掃瞄電子顯微鏡系統 FIB SEM 是在SEM中加入聚焦離子束管的雙光束系統,具有微納加工和成像功能,廣泛應用於科學研究和半導體晶元研發。本文介紹了FIB SEM在材料研究中的應用。.定點剖面形貌和成分分析。圖a和b分別是梳狀CDS微線的光學顯微鏡和掃瞄電子顯微鏡 SEM 從中可以看...

    金建立功透射電子顯微鏡技術

    透射電子顯微鏡技術 透射電子顯微鏡,簡稱透射電子顯微鏡,將一束加速而集中的電子投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞並改變方向,從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度和厚度有關,因此可以建立具有不同亮度和暗度的影象。TEM 是德國科學家 Ruskahe 和 Knoll 於 年在其前輩 G...